Новые технологии и материалы, наука, инновации, нанотехнологии, cleantech
Подписка на новости департамента маркетингового анализа «Текарт»
Маркетинговое исследование рынка приборов для измерения размеров наночастиц в жидкости
31.03.2010 — дата выхода отчета
Этот проект выполнен по заказу и на основе индивидуальной постановки задачи. По условиям Договора отчет об исследовании не продается. Информация о проекте представлена на официальном сайте департамента маркетингового анализа группы «Текарт» для демонстрации нашего опыта и возможностей.
Вы можете заказать аналогичное индивидуальное исследование, заполнив форму внизу этой страницы. Также вы можете заказать исследование по любой другой теме.
Цель исследования: оценка текущего состояния и определение прогнозов развития российского и мирового рынка приборов для измерения наночастиц в жидкости.
Объект исследования: оборудование, основанное на принципах динамического рассеяния света. Синонимы: фотонная корреляционная спектроскопия; квазиупругое рассеяние света; dynamic light scattering (DLS); photon correlation spectroscopy (PCS); quasielastic light scattering (QELS).
Рассматриваемые потребительские сегменты:
- научные исследования;
- промышленность;
- подготовка кадров для наноиндустрии;
- медицина.
Акцент в данном исследовании сделан на рассмотрении одного из методов определения размеров наночастиц – сегмента приборов, основанных на динамическом рассеянии света. Принцип работы приборов заключается в регистрации квазиупругого рассеянного лазерного излучения от взвешенных в жидкости наночастиц.
Принятые в мире и России синонимы и сокращения:
- лазерный корреляционный спектрометр (ЛКС);
- спектрометры динамического рассеяния света (ДРС);
- фотонная корреляционная спектроскопия (ФКС);
- квазиупругое рассеяние света (КУРС);
- dynamic light scattering (DLS);
- photon correlation spectroscopy (PCS);
- quasielastic light scattering (QELS).
Перечислим также другие технологий, позволяющие получать сведения о размерах наночастиц.
Электронный микроскоп (ЭМ, electron microscope) — высоковольтный вакуумный прибор, в котором увеличенное изображение объекта получают с помощью потока электронов. Разрешающая способность электронного микроскопа достигает 0.1 нм.
Основными типами электронных микроскопов являются сканирующий (растровый) и трансмиссивный (просвечивающий).
Растровый электронный микроскоп (РЭМ, SEM) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением. Растровый электронный микроскоп основан на использовании предварительно сформированного тонкого электронного луча, положением которого управляют с помощью электромагнитных полей. Электронный зонд последовательно проходит по поверхности исследуемого образца. Регистрация электронов, выходящих из объекта, а также других видов излучения (характеристического, светового) дает информацию о различных свойствах микроучастков изучаемого объекта. Соответственно этому системы индикации и другие элементы растровых микроскопов различаются в зависимости от вида регистрируемого излучения.
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM) – установка, в которой изображение от ультратонкого объекта (толщиной порядка 0.1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца с последующим увеличением магнитными линзами (объектив) и регистрацией на флуоресцентном экране.
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ, SPM) – прибор, в котором исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальным образом приготовленных зондов в виде игл. Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры порядка десяти нанометров. Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах по порядку величин составляет 0.1 – 10 нм. В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью.
Рентгеновский дифрактометр (SAXS) – прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновских пучков, дифрагированных на исследуемом образце. Прибор применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов. Он позволяет измерять интенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до десятых долей % и угол дифракции с точностью от нескольких минут до долей секунды.
Аналитический отчет состоит из трех частей.
Первая часть освещает теоретические основы лазерной корреляционной спектроскопии. Здесь определяется терминологический аппарат исследования, преимущества и недостатки, присущие ЛКС, классификация приборов; рассматриваются представленные на рынке технологии по определению размеров частиц; приводится анализ товаров-заменителей.
Во второй части рассмотрены актуальные показатели мирового рынка ЛКС (объем рынка в разрезе сегментов, региональная и отраслевая структура потребления), а также основные тенденции его развития. Отдельное внимание уделено анализу перспектив вывода российской продукции на мировой рынок и оценке потенциала различных регионов с точки зрения емкости, отсутствия конкуренции и др. барьеров. Приведены прогнозы развития рынков продаж ЛКС, их сервисного обслуживания и услуг по измерению наночастиц до 2015 года .
В третьей части охарактеризован российский рынок ЛКС. Раздел содержит сведения об объеме и динамике рынка ЛКС в 2005–2009 годах в натуральном и стоимостном выражениях. Определена структура рынка в разрезе видов приборов, брендов, сегментов и потребителей. Отдельная глава посвящена анализу импортных поставок ЛКС, где проанализированы ключевые поставщики, потребители, цены на оборудование и т. п.
Охарактеризованы российские и иностранные производители и дистрибьюторы ЛКС, рассмотрены ключевые участники рынка, описаны их профили и стратегии, проведен конкурентный анализ. Описаны ключевые группы потребителей и приведена оценка объемов потребления в каждой из групп и потенциального спроса на ЛКС. Проанализирована стоимость представленного на рынке оборудования.
В заключении проведен PEST-анализ российского рынка ЛКС и определены прогнозы его развития в период до 2015 года.
Объект исследования: оборудование, основанное на принципах динамического рассеяния света. Синонимы: фотонная корреляционная спектроскопия; квазиупругое рассеяние света; dynamic light scattering (DLS); photon correlation spectroscopy (PCS); quasielastic light scattering (QELS).
Рассматриваемые потребительские сегменты:
- научные исследования;
- промышленность;
- подготовка кадров для наноиндустрии;
- медицина.
Акцент в данном исследовании сделан на рассмотрении одного из методов определения размеров наночастиц – сегмента приборов, основанных на динамическом рассеянии света. Принцип работы приборов заключается в регистрации квазиупругого рассеянного лазерного излучения от взвешенных в жидкости наночастиц.
Принятые в мире и России синонимы и сокращения:
- лазерный корреляционный спектрометр (ЛКС);
- спектрометры динамического рассеяния света (ДРС);
- фотонная корреляционная спектроскопия (ФКС);
- квазиупругое рассеяние света (КУРС);
- dynamic light scattering (DLS);
- photon correlation spectroscopy (PCS);
- quasielastic light scattering (QELS).
Перечислим также другие технологий, позволяющие получать сведения о размерах наночастиц.
Электронный микроскоп (ЭМ, electron microscope) — высоковольтный вакуумный прибор, в котором увеличенное изображение объекта получают с помощью потока электронов. Разрешающая способность электронного микроскопа достигает 0.1 нм.
Основными типами электронных микроскопов являются сканирующий (растровый) и трансмиссивный (просвечивающий).
Растровый электронный микроскоп (РЭМ, SEM) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением. Растровый электронный микроскоп основан на использовании предварительно сформированного тонкого электронного луча, положением которого управляют с помощью электромагнитных полей. Электронный зонд последовательно проходит по поверхности исследуемого образца. Регистрация электронов, выходящих из объекта, а также других видов излучения (характеристического, светового) дает информацию о различных свойствах микроучастков изучаемого объекта. Соответственно этому системы индикации и другие элементы растровых микроскопов различаются в зависимости от вида регистрируемого излучения.
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM) – установка, в которой изображение от ультратонкого объекта (толщиной порядка 0.1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца с последующим увеличением магнитными линзами (объектив) и регистрацией на флуоресцентном экране.
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ, SPM) – прибор, в котором исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальным образом приготовленных зондов в виде игл. Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры порядка десяти нанометров. Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах по порядку величин составляет 0.1 – 10 нм. В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью.
Рентгеновский дифрактометр (SAXS) – прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновских пучков, дифрагированных на исследуемом образце. Прибор применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов. Он позволяет измерять интенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до десятых долей % и угол дифракции с точностью от нескольких минут до долей секунды.
Аналитический отчет состоит из трех частей.
Первая часть освещает теоретические основы лазерной корреляционной спектроскопии. Здесь определяется терминологический аппарат исследования, преимущества и недостатки, присущие ЛКС, классификация приборов; рассматриваются представленные на рынке технологии по определению размеров частиц; приводится анализ товаров-заменителей.
Во второй части рассмотрены актуальные показатели мирового рынка ЛКС (объем рынка в разрезе сегментов, региональная и отраслевая структура потребления), а также основные тенденции его развития. Отдельное внимание уделено анализу перспектив вывода российской продукции на мировой рынок и оценке потенциала различных регионов с точки зрения емкости, отсутствия конкуренции и др. барьеров. Приведены прогнозы развития рынков продаж ЛКС, их сервисного обслуживания и услуг по измерению наночастиц до 2015 года .
В третьей части охарактеризован российский рынок ЛКС. Раздел содержит сведения об объеме и динамике рынка ЛКС в 2005–2009 годах в натуральном и стоимостном выражениях. Определена структура рынка в разрезе видов приборов, брендов, сегментов и потребителей. Отдельная глава посвящена анализу импортных поставок ЛКС, где проанализированы ключевые поставщики, потребители, цены на оборудование и т. п.
Охарактеризованы российские и иностранные производители и дистрибьюторы ЛКС, рассмотрены ключевые участники рынка, описаны их профили и стратегии, проведен конкурентный анализ. Описаны ключевые группы потребителей и приведена оценка объемов потребления в каждой из групп и потенциального спроса на ЛКС. Проанализирована стоимость представленного на рынке оборудования.
В заключении проведен PEST-анализ российского рынка ЛКС и определены прогнозы его развития в период до 2015 года.
Содержание отчета об исследовании рынка приборов для измерения размеров наночастиц в жидкости
Введение
ЧАСТЬ 1. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ ОБ ОБЪЕКТЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
1. Термины и определения
2. Оборудование для определения размеров наночастиц: сравнительный анализ
2.1. Обзор методов определения размеров наночастиц. Классификация оборудования
2.2. Общая характеристика лазерных корреляционных спектрометров
2.2.1. Принцип работы
2.2.2. Преимущества и недостатки
2.2.3. Области применения
3. Характеристика товаров-заменителей
3.1. Инновационные разработки измерителей размеров наночастиц в жидкости
3.2. Рынок аналитического оборудования для исследования наноматериалов
3.2.1. Мировой рынок
3.2.2. Российский рынок
ЧАСТЬ 2. МИРОВОЙ РЫНОК ОБОРУДОВАНИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ
4. Объем и динамика мирового рынка в 2005–2009 годах
4.1. Рынок продаж приборов для измерения размеров наночастиц
4.2. Рынок сервисного обслуживания приборов для измерения размеров наночастиц/услуг по измерению размеров наночастиц
5. Тенденции рынка
6. Структура рынка
7. Основные участники рынка
8. Характеристика потребления
8.1. Объем инвестирования в нанотехнологии в разрезе отраслей
8.2. Производственная структура на рынке наноиндустрии
8.3. Потребление ЛКС в промышленных отраслях
9. Ценовой анализ
10. Факторы, влияющие на рынок
11. Прогноз развития мирового рынка до 2015 года
ЧАСТЬ 3. РОССИЙСКИЙ РЫНОК ОБОРУДОВАНИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ
12. Объем и динамика российского рынка в 2005–2009 годах
13. Тенденции рынка
14. Внутреннее производство
15. Внешняя торговля
15.1. Импорт
15.1.1. Объем и динамика импорта
15.1.2. Структура импорта в региональном разрезе
15.1.3. Структура импорта в разрезе производителей
15.1.4. Структура импорта в разрезе моделей ЛКС
15.1.5. Структура импорта в разрезе потребителей
15.2. Экспорт
16. Участники российского рынка
16.1. Структура рынка
16.2. Профили ключевых производителей
16.3. Конкурентный анализ
16.3.1. Ассортиментная политика
16.3.2. Маркетинговая политика
16.3.3. Сбытовая политика
16.3.4. Ценовая политика
17. Характеристика потребления
17.1. Отраслевая структура потребления
17.2. Обзор потребления оборудования по отраслям
17.2.1. Научные исследования
17.2.2. Подготовка кадров для наноиндустрии
17.2.3. Промышленность
17.2.4. Медицина/фармакология
17.3. Емкость рынка
18. Ценовой анализ
19. Факторы, влияющие на рынок
19.1. Политические факторы
19.2. Экономические факторы
19.3. Социальные факторы
19.4. Технологические факторы
20. Прогноз развития российского рынка до 2015 года
Выводы
Приложения
1. Направления импортных поставок лазерных корреляционных спектрометров
2. Конкурентные преимущества приборов для измерения размеров наночастиц на основе лазерной корреляционной спектрометрии
3. Перечень инвестиционных объектов ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в российской федерации на 2008 — 2010 годы»
4. База данных производителей лазерных корреляционных спектрометров
Введение
ЧАСТЬ 1. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ ОБ ОБЪЕКТЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
1. Термины и определения
2. Оборудование для определения размеров наночастиц: сравнительный анализ
2.1. Обзор методов определения размеров наночастиц. Классификация оборудования
2.2. Общая характеристика лазерных корреляционных спектрометров
2.2.1. Принцип работы
2.2.2. Преимущества и недостатки
2.2.3. Области применения
3. Характеристика товаров-заменителей
3.1. Инновационные разработки измерителей размеров наночастиц в жидкости
3.2. Рынок аналитического оборудования для исследования наноматериалов
3.2.1. Мировой рынок
3.2.2. Российский рынок
ЧАСТЬ 2. МИРОВОЙ РЫНОК ОБОРУДОВАНИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ
4. Объем и динамика мирового рынка в 2005–2009 годах
4.1. Рынок продаж приборов для измерения размеров наночастиц
4.2. Рынок сервисного обслуживания приборов для измерения размеров наночастиц/услуг по измерению размеров наночастиц
5. Тенденции рынка
6. Структура рынка
7. Основные участники рынка
8. Характеристика потребления
8.1. Объем инвестирования в нанотехнологии в разрезе отраслей
8.2. Производственная структура на рынке наноиндустрии
8.3. Потребление ЛКС в промышленных отраслях
9. Ценовой анализ
10. Факторы, влияющие на рынок
11. Прогноз развития мирового рынка до 2015 года
ЧАСТЬ 3. РОССИЙСКИЙ РЫНОК ОБОРУДОВАНИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ
12. Объем и динамика российского рынка в 2005–2009 годах
13. Тенденции рынка
14. Внутреннее производство
15. Внешняя торговля
15.1. Импорт
15.1.1. Объем и динамика импорта
15.1.2. Структура импорта в региональном разрезе
15.1.3. Структура импорта в разрезе производителей
15.1.4. Структура импорта в разрезе моделей ЛКС
15.1.5. Структура импорта в разрезе потребителей
15.2. Экспорт
16. Участники российского рынка
16.1. Структура рынка
16.2. Профили ключевых производителей
16.3. Конкурентный анализ
16.3.1. Ассортиментная политика
16.3.2. Маркетинговая политика
16.3.3. Сбытовая политика
16.3.4. Ценовая политика
17. Характеристика потребления
17.1. Отраслевая структура потребления
17.2. Обзор потребления оборудования по отраслям
17.2.1. Научные исследования
17.2.2. Подготовка кадров для наноиндустрии
17.2.3. Промышленность
17.2.4. Медицина/фармакология
17.3. Емкость рынка
18. Ценовой анализ
19. Факторы, влияющие на рынок
19.1. Политические факторы
19.2. Экономические факторы
19.3. Социальные факторы
19.4. Технологические факторы
20. Прогноз развития российского рынка до 2015 года
Выводы
Приложения
1. Направления импортных поставок лазерных корреляционных спектрометров
2. Конкурентные преимущества приборов для измерения размеров наночастиц на основе лазерной корреляционной спектрометрии
3. Перечень инвестиционных объектов ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в российской федерации на 2008 — 2010 годы»
4. База данных производителей лазерных корреляционных спектрометров
Основываясь на обобщенном опыте и индивидуальном уточнении задачи, мы готовы провести исследование, которое будет учитывать все Ваши пожелания. В зависимости от постановки задачи такая работа может занять от нескольких дней («бизнес-справка») до нескольких недель. Для расчета бюджета вашего исследования заполните форму заявки, в которой наиболее полно опишите стоящие перед вашей компанией задачи.
Оценка сложности Вашего проекта, проведение предпроектного анализа и подготовка коммерческого предложения займет у нас 1–2 рабочих дня.