В условиях развития нанотехнологий возрастают требования, предъявляемые к метрологическим системам, способным в абсолютном значении оценить параметры и характеристики исследуемых наноструктур.

В настоящее время развитие комплекса наноиндустрии существенно сдерживается недостаточным уровнем метрологического обеспечения. Следует отметить, что интенсивное развитие мирового нанотеха требует формирования системы метрологического обеспечения измерений в нанометровом диапазоне, где одним из ключевых параметров, наряду с модулем упругости, твердости, электропроводности, визуализацию топографии поверхности наноструктур, являются линейные размеры объектов.

Существующие в настоящее время системы сканирования исследуемых объектов нанометровой размерности по своему функциональному назначению представляют собой сравнительные устройства (компараторы), позволяющие оценить параметры исследуемого образца относительно характеристик эталона. При этом, возможность определить абсолютные значения таких свойств объекта, как линейные размеры, численные характеристики топографии и т. п. отсутствует.

Объектом исследования является средство нанометрологии — модуль лазерного интерферометра (ЛИ) с субнанометровой точностью линейных измерений.

Среди разновидностей реализации модулей ЛИ можно выделить:
- интегрированные модули — ЛИ, встроенные в комплексную метрологическую систему; зачастую, данное оборудование представляет собой функциональный узел прикладного решения для определенной сферы деятельности: в основном, для микро- и наноэлектроники;
- автономные приборы — ЛИ, выполненные в качестве блока, способного использоваться совместно со средствами прецизионной микроскопии — СЗМ, АСМ, РЭМ и др.; такое решение является универсальным и может применяться как для научно-исследовательских целей, так и в сфере промышленной метрологии.

Основными областями применения является измерение линейных перемещений в:
- оптических сенсорах (дилатометрах, электро- и магнитострикционных параметров материалов, датчиков акустической эмиссии, сейсмодатчиках, гидрофонах, гравиметрах и проч.);
- линейных манипуляторах сканирующих зондовых устройств;
- системах позиционирования литографических установок;
- мерах перемещения нанометрового диапазона;
- оптических интерференционных микроскопах и др.

Кроме того, высокоточный лазерный интерферометр с субнанометровой точностью измерения может использоваться в качестве эталонного средства измерения в области государственной стандартизации и метрологии.

Cтруктура отчета о маркетинговом исследовании рынка модулей лазерной интерферометрии с субнанометровой точностью измерений
Введение
1. ОСНОВНЫЕ СВЕДЕНИЯ ОБ ОБЪЕКТЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
2. Конкурентный анализ рынка
2.1. Распределение сил основных игроков
2.2. Профили основных производителей
2.3. Ассортимент продукции, представленный на рынке
2.4. Ассортиментный анализ рынка
3. Анализ рынка модулей ЛИ с субнанометровой точностью измерений
3.1. Обзор мирового рынка средств прецизионной метрологии
3.2. Объем и динамика мирового рынка в 2009–2011 гг.
3.3. Производственная структура мирового рынка
3.4. Емкость рынка
4. Существующие НИОКР в области разработок и создания исследуемого прибора
5. Актуальные тенденции и факторы, оказывающие влияние на развитие рынка
6. Обзор состояния основных областей применения исследуемого прибора
6.1. Обзор мирового и российского рынка нанотехнологий
6.2. Обзор мирового и российского рынка электронных приложений
6.3. Обзор мирового и российского рынка средств электронной микроскопии
7. Прогноз развития рынка до 2018 года
Выводы

Основываясь на обобщенном опыте и индивидуальном уточнении задачи, мы готовы провести исследование, которое будет учитывать все Ваши пожелания. В зависимости от постановки задачи такая работа может занять от нескольких дней («бизнес-справка») до нескольких недель. Для расчета бюджета вашего исследования заполните форму заявки, в которой наиболее полно опишите стоящие перед вашей компанией задачи.

Оценка сложности Вашего проекта, проведение предпроектного анализа и подготовка коммерческого предложения займет у нас 1–2 рабочих дня.